Die Osseointegration von Implantaten ist ein Erfolgskriterium und hängt entscheidend von der chemischen Struktur und Topografie der Implantatoberflächen ab.
Die sandgestrahlten, säuregeätzten und wärmebehandelten Oberfläche aus Yttriumoxid-stabilisiertem Zirkonoxid (cer. face 14) wurden mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenstrahlung charakterisiert. Die cer.face 14 Oberfläche wies eine Oberfläche mit abgerundetem Profil auf, welche sich als geeignet für die Adhäsion von Zellen erwies.

Schlussfolgerung:
Scharfkantige Mikrotopografien scheinen die Zellfunktion und Zellanlagerung zu beeinträchtigen. Daher sollten mikrostrukturierte Implantate, die in der zahnärztlichen Chirurgie eingesetzt werden, jede scharfkantige Topografie auf ihrer Oberfläche vermeiden.