In die Studie wurden 60 Patienten (n=77 Implantate) mit Sondierungstiefen von 6-10 mm und einem Knochenverlust von >= 2 mm einbezogen. Zunächst wurde ein Debridement der Implantatoberflächen durchgeführt. Die periimplantären Defekte wurden anschließend nach dem Zufallsprinzip mit Matrix Chips auf Gelatinebasis (MatrixC) oder chlorhexidinhaltigen Periochips (PerioC) behandelt. Klinische Untersuchungen und Wiederholungen der Applikation der Chips erfolgten nach 2, 6, 6, 8, 12 und 18 Wochen. Die Abschlussuntersuchung wurde nach Ablauf von sechs Monaten durchgeführt.
Gegenüber der Ausgangssituation konnte in beiden Gruppen eine signifikante Verbesserung beim Attachmentlevel beobachtet werden. Dieser war in der PerioC-Gruppe signifikant gegenüber der MatrixC-Gruppe erhöht. Auch die Sondierungstiefe hatte sich in der PerioC-Gruppe statistisch signifikant gegenüber der MatrixC-Gruppe reduziert. Der Blutungs-Index hatte sich in beiden Gruppen gleichermaßen auf die Hälfte der Ausgangswerte reduziert.