48 zweiteilige Implantate (N=10 Probanden) mit einer diagnostizierten Periimplantitis wurden nach dem Zufallsprinzip zwei Behandlungsgruppen zugeteilt. In der Kontrollgruppe erfolgte eine mechanische Reinigung mittels Scaling und Root planing (SRP) und in der Testgruppe wurde zusätzlich zum SRP ein gepulster Diodenlaser eingesetzt (810 nm, Dauer 1 Min, Energiedichte 400 mW/cm2, Energie 1,5 J, Durchmesser des Lichtleiters/Lichtpunkts 1,0 mm). Zu Beginn der Therapie waren keine Unterschiede zwischen beiden Behandlungsgruppen in Bezug auf die mittleren Sondierungstiefen (PD) und die krestalen Knochenverluste vorhanden. Sechs Monate nach der Therapie konnte in der Testgruppe ein signifikant höherer Knochenverlust als in der Kontrollgruppe ermittelt werden. In beiden Gruppen war das Bakterienspektrum einen Monat nach der Behandlung unverändert.

Schlussfolgerung: Es konnte kein Zusatznutzen nach Anwendung eines Diodenlasers als adjunktive Behandlung zu einem SRP im Vergleich zu SRP als alleiniger Maßnahme ermittelt werden.