80 Implantate (44 im Oberkiefer, 36 im Unterkiefer) wurden in 18 zahnlose Kiefer (zehn Ober- und acht Unterkiefer) mittels schleimhautgelagerter Bohrschablonen eingesetzt. Die vertikalen Abweichungen und die Winkelabweichungen von der geplanten Implantatposition fielen im Oberkiefer signifikant niedriger aus als im Unterkiefer. Die mittlere lineare Gesamtabweichung betrug in vertikaler Richtung 1,0 mm. Die laterale Abweichung betrug im Oberkiefer 1,8 mm und im Unterkiefer 2,3 mm, wenn 15 mm lange Implantate verwendet wurden.

Schlussfolgerung: Beim Einsatz stereolithografischer Bohrschablonen, die auf Grundlage von DVT-Daten hergestellt wurden, sollten lokalisationsbedingte Unterschiede der Abweichung der geplanten von der tatsächlichen Implantatposition in Betracht gezogen werden. Die in der vorliegenden Studie ermittelte lineare Abweichung in vertikaler Richtung sollte als Sicherheitsabstand zu vulnerablen Strukturen angesehen werden.